Eclipse LV150N
• ออกแบบตามหลักสรีระวิทยา (Ergonomic Design) เพื่อการใช้งานง่าย โครงสร้างของกล้องมีความมั่นคง ลดแรงสั่นสะเทือน
• Modular Design เหมาะสำหรับการใช้งานหลายประเภท เช่น งานโลหะวิทยา ตรวจสอบชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ต่างๆ
• Complete ESD Protection สำหรับการผลิตและตรวจสอบชิ้นส่วน HDD
• สามารถใช้ตรวจสอบวัสดุได้หลายแบบ เช่น Brightfield, Darkfield, Normarski DIC, Polarizing, Epi- Fluorescent, Diascopic illumination, Double-Beam interferometry
• ระบบ CFI 60 Optical System ให้ภาพคมชัดสูงสุด สามารถปรับกำลังขยายได้หลายระดับ (ตั้งแต่ 12x – 3000x) พร้อมด้วย Working Distance ที่มากกว่า
• รุ่น L150NA สามารถควบคุมการเปลี่ยนเลนส์วัตถุด้วย Motorized Nosepiece
• สามารถต่อเพิ่มอุปกรณ์ต่างๆ ตามความเหมาะสมของการใช้งาน เช่น อุปกรณ์ CCTV/ ถ่ายภาพ, Scale เพื่อวัดขนาดต่างๆ รวมทั้งเชื่อมต่อกับ Software Image Analysis เพื่อการวิเคราะห์และเก็บข้อมูลทางคอมพิวเตอร์