• กล้องจุลทรรศน์อุตสาหกรรมชนิดหัวกลับ (Inverted Metallographic Microscope) ใช้ในการวิเคราะห์ โครงสร้างวัสดุด้านโลหะวิทยา และชิ้นส่วน   Electronic เป็นต้น
• วิเคราะห์และตรวจสอบชิ้นงานได้ทั้งแบบ Brightfield Observation และ Simple Polarizing Observation
• CFI60 Series Optical System  มีค่า N.A. ที่สูงและ ค่า Working Distance ที่ยาวขึ้น ทำให้ภาพที่ได้มีความคมชัดสูง แสดงรายละเอียดต่างๆ ได้ชัดเจน
• Stage ถูกออกแบบเพื่อให้สามารถ รองรับงานที่มีน้ำหนักมาก และมีความมั่นคง ลดแรงสั่นสะเทือน มีหลายแบบให้เลือกพร้อม Specimen Holder
• สามารถใช้งานร่วมกับอุปกรณ์เสริมอื่นๆได้ เช่น อุปกรณ์ Digital Camera System รวมทั้งสามารถเชื่อมต่อกับ Image Analyzing Software NIS-Elements Series ได้